DBU aktuell Nr. 10 | 2019

Informationen aus der Fördertätigkeit der Deutschen Bundesstiftung Umwelt

iAir-Testaufbau beim Einbau in einer Vitrine des Bayerischen Nationalmuseums © Dr. Elise Spiegel
iAir-Testaufbau beim Einbau in einer Vitrine des Bayerischen Nationalmuseums
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3.) Aus der Forschung: Schadstoffe in Museen aufspüren

Wie lassen sich flüchtige organische Verbindungen (volatile organic compounds, VOC), die Kunst- und Kulturgüter schädigen können, in Museen überprüfen und überwachen? Das erforscht zurzeit die BioChip Systems GmbH in Zusammenarbeit mit der Beratungsgesellschaft CARE FOR ART, dem Lehrstuhl für Messsystem- und Sensortechnik der Technischen Univer­sität München, dem Doerner-Institut und dem Bayerischen Nationalmuseum. Alle Projektpartner sind in München ansässig. Als »Hauptschädiger« (key pollutants) gelten organische Säuren sowie Aldehyde, die insbesondere bei luftdichten Vitrinen oder Lagerungsboxen in Museen ein hohes Gefährdungspotenzial für Kunst- und Kulturgut besitzen. Diese Schadstoffe stammen oft aus zur Konservierung eingesetzten Werkstoffen oder werden aus Klebstoffen, Lacküberzügen oder Textilien in die Luft abgegeben.

Ziel des Projektes ist die Entwicklung einer innovativen multiparametrischen »Smart-Sense« Applikation – iAir. Das System soll eine möglichst hohe Anzahl relevanter VOCs mit der notwendigen Messgenauigkeit und Trennschärfe auf einem einzigen Sensorchip kontinuierlich erfassen können und gegenüber aktuell verfügbaren Methoden kostengünstiger, schneller und für die besonderen Anforderungen von Museen angepasst sein. Nachdem bereits Referenzumgebungen in Museen identifiziert und auf vorhandene VOC-Verbindungen untersucht wurden, wurde die Leistungsfähigkeit der am Markt erhältlichen VOC-Sensoren in den Referenzumgebungen getestet und anschließend ein Designentwurf für ein neues Sensornetzwerk erstellt. Aus fertiggestellten iAir-Muster-Chips sollen jetzt fünf Prototypensensoren aufgebaut werden. Gleichzeitig wird die Messtechnik spezifiziert, um eine angepasste, preiswerte Elektronik zu entwerfen. Anschließend werden Messungen mit Referenzgasen in den Modell­umgebungen durchgeführt. Durch Auswertung dieser Messungen wird es möglich sein, die Nachweisgrenze für die »Hauptschädiger« zu bestimmen und weiteren Optimierungsbedarf zu definieren.

DBU-AZ 34671